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HS810型TOFD超声波探伤仪 新型超声波探伤设备

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品牌: 时代山峰
型号: HS810
单价: 面议
起订: 1 台
供货总量: 20 台
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 江苏 盐城市
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-04-05 16:33
浏览次数: 13
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公司基本资料信息
 
 
产品详细说明
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简单介绍
HS810 便携式TOFD声波探伤仪满足 GB/T4730、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME、ENV583 、CEN 14751、NEN 1822、DNV、API、RBIM等标准及新容规、锅规的指标要求;具有JB/T 4730推荐使用的TOFD缺陷测长功能——合成孔径聚焦(SAFT),还原缺陷特征;

HS810 便携式TOFD声波探伤仪

的详细介绍

HS810 便携式TOFD声波探伤仪国产化主销机型

HS810 便携式TOFD声波探伤仪资格取证主用仪器

TOFD及PE多通道扫查性全覆盖200mm厚度焊缝

满足GB/T4730EN12668BS 7706ASTMASMEENV583CEN 14751、NEN 1822DNVAPIRBIM等标准及新容规、锅规的指标要求;

具有JB/T 4730推荐使用的TOFD缺陷测长功能——合成孔径聚焦(SAFT),还原缺陷特征;

具有长续航时间、高检测效率、人性化的操作界面,现场使用性,可实现现场远程控制及自动扫查:

提供满足企业特殊要求的软件定制服务。

提供满足现场特殊检测要求的手动、自动扫查器及硬件配置定制服务。

特种行业TOFDⅡ级人员资质培训考核样板机。

HS810性能特点
 

A特优点
→ 全中文菜单友好界面,键盘式操作模式,方便快捷;

→ 高亮彩色液晶显示,可根据不同现场环境改变;
→ 声衍射波成像检测,解决传统放射检测的扫查
    厚度及检测效率局限性,节约探伤成本;
→ 集A扫、B扫成像、TOFD成像、导波成像等多能一体;
→ 合成孔径聚焦(SAFT)技术,领潮行业,有效缺陷测量精度;
→ 波形相位稳定,信噪比高,缺陷识别更清晰;
→ 内置现场检测工艺模型,自动生成检测工艺;
→ 便携扫查器及自动扫查装置代替手工扫查,满足各种工件检测要求;
→ 多通道TOFD检测实现大厚壁焊缝性覆盖;
→ 机内存储空间及便捷的文件网络传输功能;
→ 高分子复合材料机身,有效防震、跌落;
→ 集成数据电缆,装卸方便,信号传输损耗小;
→ 高性能安保锂电,模块插接,一机两电,长续航。

→采用欧盟鉴定标准EN12668-1:2000;提供中英文欧标鉴定报告各一份

B探伤功能
扫查方式:对焊缝进行非平行、平行扫查

缺陷定位:分析软件直接读出缺陷位置、深度、自身高度
缺陷显示:直观显示缺陷在工件中的位置及上下端点
A型扫描:射频显示仪器对材料中缺陷模式的评价能力
B扫成像:实时显示缺陷截面形状

TOFD扫成像:实时显示缺陷的灰度扫查图,直观显示缺陷并对缺陷质量进行评价

 

C扫描范围
多路TOFD检测和PE检测覆盖200mm厚度以内的分区扫查,可扩展至400mm厚度。

D数据分析
直通波去除:近表面缺陷/(?:)/处理工具,近表缺陷分析精度

横竖调整:满足不同现场操作习惯
SAFT:有效缺陷测量精度的功能

E数据存储与输出
→预先调校好各类探头与仪器的组合参数,方便存储、调出、离线分析、
   复验、打印、通讯传输。
→内存容量,单次扫查多可记录40米。
→扫查图像、文件可根据使用要求自动保存、自动编名。
→支持双USB拷贝、网络传输、外接显示器等。


HS810技术参数

多同时连接探头:10 个

脉冲类型:负方波脉冲

脉冲前沿:<10 ns

脉冲宽度:50 ns-1000ns连续可调

阻匹配:25Ω /500Ω可调

扫描范围:界面入射——1400mm钢纵波

采样频率/位数:125MHZ/12bits

采样深度:512/1024可调

重复频率:25-800Hz可调

波形平均:1-8可调

检波方式:数字检波

衰减器精度:<+1dB/12dB

声速范围:300~20000 m/s

动态范围:≥30dB

垂直线性误差:≤4%

水平线性误差:≦0.3%

分辨力:>36dB(5P14)

灵敏度余量:>60dB(深200mmΦ2平底孔)

波形显示方式:射频波,检波 (全波、负或正半波),信号频谱(FFT)

成像模式:根据选择的操作模式和相应的仪器设置显示A扫、B扫、D扫

直线扫查长度:0~40000 mm自动滚屏

记录方法:完全原始数据记录

仪器软件:仪器软件应该同时具备SAFT(合成孔径聚焦)功能,差分,直通波拉直功能

离线分析软件:离线分析软件应该具备SATF(合成孔径聚焦)处理功能

离线分析软件具备图像处理前和处理后的同屏对比显示功能

离线分析软件应该具备能直接将TOFD图像转换成BMP位图的功能

离线图象分析:恢复和回放扫查时记录的A扫波形。

缺陷尺寸和轮廓。

厚度/幅度数据统计分析。

记录转换到ASCII/MS Word/MS Excel格式报告。

数据报告:直接打印校验表、A扫、频谱图、B扫图像、C扫图像、CB图像、TOFD图像、D扫图像、P扫图像。

内存:1 G

闪存- Quasi HDD:4 G

输出:LAN, USB2.0, VGA

显屏:6.5" 高亮真彩色高分辨率 (32 bit) SVGA 640×480 像素 133×98 mm,日光可读 LCD;大 A扫尺寸 130×92 mm

控制:前板密封键盘,鼠标,飞梭

兼容外部设备:USB键盘和鼠标,USB闪存卡,通过USB或LAN打印,通过USB或LAN连接PC,SVGA外接显示器

仪器操作系统:winCE操作系统,毒能力强

离线分析软件操作系统:全兼容在Windows™ 98SE, Windows™ 2000, Windows™ XP,Vista,Win7下工作的外接计算机,外接计算机通过网络或USB连接进行离线数据分析和报告。

检测数据传输:检测信号及编码器数据应采用单根集成电缆形式将信号输入仪器,及复合电缆线集成一体

扫查器装置:应配备扫查器,并具备磁轮压伸弹簧耦合装置

出厂检验:仪器通过质量技术监督检验检疫总局组织的科技成果鉴定,仪器出厂时提供欧标鉴定合格书

包装:高强度硬塑箱

尺寸:248×180×80 mm含电池

电源、电压:电池12V7Ah连续工作8小时(锂电池供电)

环境温度:(-10-40)°C(参考值)

相对湿度:(20-95)%RH

重量:2.4kg含电池

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